- Author
- Kowalczyk Adam (Uniwersytet Szczeciński)
- Title
- System pomiarowy - podstawa do doskonalenia systemu zarządzania wiedzą
Measurement System - Basis of Knowledge Management System Improvement - Source
- Zeszyty Naukowe Uniwersytetu Szczecińskiego. Ekonomiczne Problemy Usług, 2008, nr 18, s. 131-139, tab., wykr.
- Issue title
- Ekonomia-Zarządzanie-Transport.Ujęcie systemowe
- Keyword
- Zarządzanie wiedzą
Knowledge management - Note
- streszcz., summ.
- Abstract
- Czy zarządzanie wiedzą to metoda dobra? Czy jest skuteczna? Czy przynosi organizacji określone korzyści przekładające się na zwiększenie wartości dodanej dla klienta? Czy dzięki zarządzaniu wiedzą skraca się czas realizacji zleceń, niższe koszty, lepszą jakość? Literatura jest pełna gloryfikacji i opisów pozytywnego wpływu zarządzania wiedzą na funkcjonowanie organizacji, a najlepszymi przykładami są największe firmy konsultingowe świata, które korzyści wynikające z funkcjonowania systemów zarządzania wiedzą liczą w milionach dolarów. Nie możemy jednak zapomnieć, że są to firmy z tak zwanej grupy "knowledge based company", gdzie wiedza jest pod-stawowym produktem sprzedawanym przez organizację i gdzie niemal wszystkie procesy biznesowe pokrywają się z procesami wiedzy (wiedza jest produktem). (fragment tekstu)
The Article presents one of the most important factors of management sys-tem, which are measurement and monitoring. The task of those factors is efficien-cy estimation of implemented knowledge management solutions and "identifica-tion" of knowledge gaps. The article shows six most important roles of knowledge management measurement system, which are obligatory to be implemented. (author's abstract) - Accessibility
- The Library of Warsaw School of Economics
The Library of University of Economics in Katowice
The Main Library of Poznań University of Economics and Business
Szczecin University Main Library - Bibliography
-
- J. Gaarder: Świat Zofii. Jacek Santorski & Co, Warszawa 1995, s. 222.
- Cited by
- ISSN
- 1640-6818
1896-382X - Language
- pol
