BazEkon - The Main Library of the Cracow University of Economics

BazEkon home page

Main menu

Author
Bednarz Kamila (Uniwersytet Szczeciński)
Title
Modelowanie rozkładu tygodniowych stóp zwrotu spółek wchodzących w skład indeksu WIG20 za pomocą rozkładu Laplace'a i Gaussa. Wpływ wartości koncentracji na wynik testu zgodności dla rozkładu normalnego
Modelling the Distribution of Weekly Rates of Return of The WIG20 Companies By Means of the Laplace and Gaussian Distributions the Influence of Sample Kurtosis on the Result of Goodness of Fit Test for a Normal Distribution
Source
Zeszyty Naukowe Uniwersytetu Szczecińskiego. Finanse, Rynki Finansowe, Ubezpieczenia, 2013, nr 63, s. 7-18, rys., tab., bibliogr. 9 poz.
Issue title
Rynek kapitałowy : skuteczne inwestowanie
Keyword
Rynek kapitałowy, Stopa zwrotu akcji, Indeks giełdowy
Capital market, Stock rate of returns, Stock market indexes
Note
streszcz., summ..
Abstract
W pracy rozpatrzono wykorzystanie rozkładu Laplace'a i rozkładu Gaussa do modelowania rozkładu tygodniowych stóp zwrotu spółek wchodzących w skład indeksu WIG20. Jako jedno z kryteriów przydatności rozkładu do modelowania przyjęto maksymalny okres obserwacji zapewniający pozytywne wyniki testu zgodności. Stwierdzono, że dane tygodniowe poprawiły jakość modelowania w stosunku do danych dziennych wyrażającą się dłuższym okresem przydatności obydwu rozkładów. Ponadto zwrócono uwagę na interesującą prawidłowość występującą dla rozkładu normalnego, która wyraża się istotnym związkiem pomiędzy zmianą wartości koncentracji a wynikiem testu zgodności rozkładu. (abstrakt oryginalny)

In this paper the application of Laplace and Gaussian distributions in modelling the distribution of weekly rates of return of the WIG20 companies was examined. As one of the criteria used for assessing the usefulness of a distribution in modelling, the maximum observation period ensuring positive results of goodness of fit test was accepted. It has been observed that weekly data improved the quality of modelling compared with daily data, which was expressed in terms of the longer period of usefulness for both distributions. Furthermore, the attention was drawn to a curious regularity observed for the normal distribution expressed by an important relation between the change in the value of sample kurtosis and the result of the goodness of fit test. (original abstract)
Accessibility
The Library of University of Economics in Katowice
The Main Library of Poznań University of Economics and Business
Szczecin University Main Library
Full text
Show
Bibliography
Show
  1. Bednarz K. [2012], Goodness of fit tests in modeling the distribution of the daily rate of return on the WIG20 companies, Folia Oeconomica Stetinensia 10 (18) 2011/2, Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Szczecińskiego, Szczecin.
  2. Bołt T.W., Miłobędzki P. [1994], The Warsaw Stock Exchange in the Period 1991-1993. Qaulitative Problems of its Modelling, "Economics of Planning", Vol. 27.
  3. Jajuga K. [2000], Metody ekonomeryczne i statystyczne w analizie rynku kapitałowego, Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej, Wrocław.
  4. Kotz S., Kozubowski T., Podgórski K. [2001], The Laplace distribution and generalizations, Birkhauser.
  5. Osińska M. [2006], Ekonometria finansowa, PWE, Warszawa.
  6. Piasecki K., Tomasik E. [2011], Rates of returns of WIG20 index in the situation of extreme tide turningon the Warsaw Stock Exchange, w: A.S. Barczak, E. Dziwok (red.), Mathematical, Econometrical and Computer Methods in Finance and Insurance, Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej, Katowice.
  7. Tarczyński W., Mojsiewicz M. [2001], Zarządzanie ryzykiem, PWE, Warszawa.
  8. Tarczyński W. [2002], Fundamentalny portfel papierów wartościowych, PWE, Warszawa.
  9. Witkowska D., Kompa K. [2007], Analiza własności stóp zwrotu akcji wybranych spółek, w: W. Tarczyński (red.), Rynek kapitałowy. Skuteczne inwestowanie, Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Szczecińskiego, Szczecin.
Cited by
Show
ISSN
1640-6818
1733-2842
Language
pol
Share on Facebook Share on Twitter Share on Google+ Share on Pinterest Share on LinkedIn Wyślij znajomemu